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日本分光TOF高精度载流子迁移率测试系统
描述
载流子迁移率系统CMM-250是测量薄膜电子和空穴的迁移率的有效评价系统，主要用于EL元件和太阳能电池等测试。
我们有防噪声系统和独特的信号处理，明显降低了噪声，响应速度快，如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。可更换不同的模具（作为一个选项）模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600P秒荧光.
我们的载流子迁移率测试仪除了TOF法测测量，也可选FET方法测量。
特点
1、在纳米秒的时间分辨率?以10-7-10-1cm2 / V·秒速度移动
（这可能改变取决于样品的厚度）。
2、有简单操作和探针样品室
3、新设计的光学系统和数据处理，能够获得高信噪比的资料
规格
光源：氮激发光模激光器
氮激光脉冲宽度：600psec
氮激光输出：250KW＠10Hz
输出波长：337.1nm
模具的激光脉冲宽度：400psec(在480nm)
分辨率：测量时间小于10纳秒
测量流动范围：10-7 ~ 10-1cm2 / V.秒
(流动性不能在这个范围内测量)
偏置电压：0～±500V
负载电阻：50Ω～100KΩ 5steps
360～720nm（模具可选）
轴的时间分辨率：8位（平均11位）
同步：光电二极管激励光监测系统
个人电脑
激光控制：激光开/关
数据采集：次把握~ 256枪
数据分析：数据显示并保存
Y和X轴对数转换
迁移时间和迁移率的计算